歡迎訪問北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司網(wǎng)站!熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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Product Category加拿大Gentec-EO 推出激光功率計能量計表頭,為擁有激光功率測量系統(tǒng),您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測器。無論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD 顯示屏上,或是連接 USB/RS-23...
LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù),用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應(yīng)),當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡”...
PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理:Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強激光聚焦到待測樣品上,光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應(yīng),當(dāng)一束Pr...
角分辨散射測量系統(tǒng)-Horos簡易型散射儀角分辨散射測量系統(tǒng)-Horos(hight sensitive optical roughness sensor)簡易型散射儀 是一種小型的,便于移動的光學(xué)傳...
穆勒矩陣測量系統(tǒng)中采用四個光彈性調(diào)制器(PEM),150XT Mueller偏振計可以在短時間內(nèi)同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產(chǎn)品系列的這一新增功能可應(yīng)用...
Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性,在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室環(huán)境中均可勝任。 該模型廣泛用于研...
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